Leica Микроскоп для анализа материалов DM6 M LIBS

фото:Leica Микроскоп для анализа материалов DM6 M LIBS
Производитель Leica
Модель DM6 M LIBS
Все характеристики
срок поставки 60-90 дней
по запросу
срок поставки 60-90 дней
Бесплатная доставка от 100 000 ₽

Подробнее о стоимости и вариантах доставки

Способы оплаты

Банковским переводом, при получении, Сбербанк онлайн

Основные характеристики
Модель
DM6 M LIBS
Категория
Вертикальные микроскопы
Производитель
Leica
Применение
Микроскоп Leica DM6 M LIBS это комбинирование визуального и элементного анализа в одной системе. Система Leica DM6 M LIBS может определить элементный состав материала по глубине от слоя к слою при помощи лазерной спектроскопии без предварительной пробоподготовки, занимающей большое количество времени. DM6 M LIBS также устраняет необходимость наличия дорогостоящего оборудования. Также возможна очистка поверхности от оксидных соединений и загрязнений и установление их источника. Область применения: Материаловедение・Элементный анализ
Особенности
Лазерно-искровая спектроскопия для элементоного анализа - это оптимальное решение для быстого получения данных об элементном составе материала Значительное удешевление проведения элементного анализа Отсутствие необходимости выделения специально-оборудонного пространства, как очередной фактор удешевления Отсутствие необходимости специальной пробоподготовки
Объективы
от 1.25x до 100x
Источник света
LED / галогенная лампа

МодельDM6 M LIBSКатегорияВертикальные микроскопыПроизводительLeicaПрименениеМикроскоп Leica DM6 M LIBS это комбинирование визуального и элементного анализа в одной системе. Система Leica DM6 M LIBS может определить элементный состав материала по глубине от слоя к слою при помощи лазерной спектроскопии без предварительной пробоподготовки, занимающей большое количество времени. DM6 M LIBS также устраняет необходимость наличия дорогостоящего оборудования. Также возможна очистка поверхности от оксидных соединений и загрязнений и установление их источника. Область применения: Материаловедение・Элементный анализОсобенностиЛазерно-искровая спектроскопия для элементоного анализа - это оптимальное решение для быстого получения данных об элементном составе материала Значительное удешевление проведения элементного анализа Отсутствие необходимости выделения специально-оборудонного пространства, как очередной фактор удешевления Отсутствие необходимости специальной пробоподготовкиОбъективы от 1.25x до 100xИсточник светаLED / галогенная лампа

С этим товаром покупают

Leica Вертикальные микроскопы для материалов DM4 M и DM6 M
Leica Вертикальные микроскопы для материалов DM4 M и DM6 M
Производитель Leica
по запросу
срок поставки 60-90 дней
Leica DM750 учебный микроскоп
Leica DM750 учебный микроскоп
Производитель Leica
по запросу
срок поставки 60-90 дней
Leica Стереомикроскоп IVESTA 3
Leica Стереомикроскоп IVESTA 3
Производитель Leica
по запросу
срок поставки 60-90 дней
Leica Микроскоп сканирующий Aperio GT450 DX
Leica Микроскоп сканирующий Aperio GT450 DX
Производитель Leica
по запросу
срок поставки 60-90 дней

Подберем аналог или произведем по вашим параметрам!